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2002
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Journal of materials science. Materials in electronics, 2003-05, Vol.14 (5-7), p.379-382
2003
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Solid-state electronics, 2003-10, Vol.47 (10), p.1613-1616
2003
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Semiconductor science and technology, 2004-05, Vol.19 (5), p.593-601
2004
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Semiconductor science and technology, 2004-03, Vol.19 (3), p.311-318
2004
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Semiconductor science and technology, 2003-04, Vol.18 (4), p.352-360
2003
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MRS proceedings, 2004, Vol.809, Article B2.3
- Ghyselen, B.
- Bogumilowicz, Y.
- Aulnette, C.
- Abbadie, A.
- Osternaud, B.
- Besson, P.
- Daval, N.
- Andrieu, F.
- Cayrefourq, I.
- Moriceau, H.
- Ernst, T.
- Tiberj, A.
- Rayssac, O.
- Blondeau, B.
- Mazure, C.
- Lagahe-Blanchard, C.
- Pocas, S.
- Cartier, A.-M.
- Hartmann, J.-M.
- Leduc, P.
- Nardo, C. Di
- Lugand, J.-F.
- Fournel, F.
- Semeria, M.-N.
- Kernevez, N.
- Campidelli, Y.
- Kermarrec, O.
- Morand, Y.
- Rivoire, M.
- Bensahel, D.
- Paillard, V.
- Vincent, L.
- Claverie, A.
- Boucaud, P.
2004
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Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 2003-01, Vol.21 (1), p.246-253
2003
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