Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...

IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2007-08, Vol.56 (4), p.1249-1256
2007
Volltextzugriff (PDF)



IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2008-02, Vol.57 (2), p.401-405
2008
Volltextzugriff (PDF)

IEEE sensors journal, 2009-05, Vol.9 (5), p.533-540
2009
Volltextzugriff (PDF)

2022 International Workshop on Impedance Spectroscopy (IWIS), 2022, p.7-9
2022
Volltextzugriff (PDF)


2014 IEEE International Conference on Imaging Systems and Techniques (IST) Proceedings, 2014, p.316-319
2014
Volltextzugriff (PDF)

2010 IEEE International Conference on Imaging Systems and Techniques, 2010, p.261-265
2010
Volltextzugriff (PDF)

2008 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, 2008, p.5592-5596
2008
Volltextzugriff (PDF)

2009 IEEE International Workshop on Imaging Systems and Techniques, 2009, p.253-257
2009
Volltextzugriff (PDF)


2007 IEEE Sensors, 2007, p.236-239
2007
Volltextzugriff (PDF)

2008 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, 2008, p.96-99
2008
Volltextzugriff (PDF)

2008 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, 2008, p.565-569
2008
Volltextzugriff (PDF)

2006 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings, 2006, p.596-599
2006
Volltextzugriff (PDF)

2006 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings, 2006, p.1937-1941
2006
Volltextzugriff (PDF)

2006 International Conference on Cyberworlds, 2006, p.99-106
2006
Volltextzugriff (PDF)

Recent Alcatel-Lucent patents
Bell Labs technical journal, 2014-03, Vol.18 (4), p.199-230
2014
Volltextzugriff (PDF)

Recent Lucent Technologies Patents
Bell Labs technical journal, 2002, Vol.7 (2), p.197-205
2002
Volltextzugriff (PDF)
Aktive Filter
Zeitschrift / SerieChemical Engineering Research & Design
SpracheDeutsch
ThemaTomography
KollektionIEEE/IET Electronic Library (IEL)