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A New Scheme of the Low-Cost Multiple-Node-Upset-Tolerant Latch
IEEE transactions on device and materials reliability, 2022-03, Vol.22 (1), p.50-58
2022
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  • BibTeX
Design of Highly Reliable 14T and 16T SRAM Cells Combined With Layout Harden Technique
IEEE transactions on device and materials reliability, 2024-06, p.1-1
2024
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Zeitschrift / SerieAcs Applied Materials & Interfaces
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