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2019
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Electronics (Basel), 2018-03, Vol.7 (3), p.41
2018
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Electronics (Basel), 2021-06, Vol.10 (12), p.1435
2021
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Electronics (Basel), 2022-01, Vol.11 (2), p.193
2022
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Electronics (Basel), 2018-08, Vol.7 (8), p.142
2018
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Electronics (Basel), 2021-03, Vol.10 (6), p.677
2021
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Electronics (Basel), 2021-06, Vol.10 (12), p.1466
2021
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Electronics (Basel), 2020-10, Vol.9 (10), p.1744
2020
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Electronics (Basel), 2021-07, Vol.10 (14), p.1661
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Compel, 2021-08, Vol.40 (3), p.502-515
2021
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Electronics (Basel), 2021-08, Vol.10 (15), p.1784
2021
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Electronics (Basel), 2020-12, Vol.9 (12), p.2198
2020
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Electronics (Basel), 2019-09, Vol.8 (9), p.1046
2019
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Electronics (Basel), 2020-03, Vol.9 (3), p.461
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Electronics (Basel), 2019-05, Vol.8 (5), p.480
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2009 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2009, p.531-548
2009
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2013
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2015 IEEE 27th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD), 2015, p.41-44
2015
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Natural resources research (New York, N.Y.), 2018-04, Vol.27 (2), p.201-216
2018
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Electronics (Basel), 2021-11, Vol.10 (22), p.2779
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Electronics (Basel), 2021-12, Vol.10 (23), p.2900
2021
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Electronics (Basel), 2022-07, Vol.11 (14), p.2187
2022
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Electronics (Basel), 2019-06, Vol.8 (6), p.717
2019
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Electronics (Basel), 2018-11, Vol.7 (11), p.298
2018
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Electronics (Basel), 2018-08, Vol.7 (8), p.139
2018
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