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IEEE transactions on electron devices, 1994-05, Vol.41 (5), p.761-767
1994
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Reliability of thin SiO2
Semiconductor science and technology, 1994-05, Vol.9 (5), p.989-1004
1994
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IEEE transactions on electron devices, 1994-07, Vol.41 (7), p.1227-1232
1994
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31st Annual Proceedings Reliability Physics 1993, 1993, p.7-12
1993
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ISPRS annals of the photogrammetry, remote sensing and spatial information sciences, 2022-01, Vol.V-2-2022, p.407-414
2022
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1997 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 35th Annual, 1997, p.7-11
1997
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