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Reliability of thin SiO2
Semiconductor science and technology, 1994-05, Vol.9 (5), p.989-1004
1994
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31st Annual Proceedings Reliability Physics 1993, 1993, p.7-12
1993
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1997 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 35th Annual, 1997, p.7-11
1997
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KollektionWiley Online Library
Zeitschrift / SerieIeee Transactions On Electron Devices
ThemaPhysics