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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2013-04, Vol.21 (4), p.706-719
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Testing Methodology of Embedded DRAMs
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2011-09, Vol.19 (9), p.1718-1722
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2012-02, Vol.20 (2), p.248-256
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2012-07, Vol.20 (7), p.1221-1234
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2010-08, Vol.18 (8), p.1225-1229
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2012-02, Vol.20 (2), p.371-375
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2012-08, Vol.20 (8), p.1419-1428
2012
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