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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2010-01, Vol.18 (1), p.66-74
2010
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Testing Methodology of Embedded DRAMs
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2012-11, Vol.20 (11), p.2044-2053
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2013-07, Vol.21 (7), p.1350-1354
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2011-09, Vol.19 (9), p.1718-1722
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2008-12, Vol.16 (12), p.1648-1656
2008
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2012-02, Vol.20 (2), p.248-256
2012
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2012-07, Vol.20 (7), p.1221-1234
2012
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2010-08, Vol.18 (8), p.1225-1229
2010
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