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Bias Dependence of Total Ionizing Dose Response in UTBB FD-SOI transistors
IEEE transactions on nuclear science, 2022-12, Vol.69 (12), p.1-1
2022
Open Access
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Degradation Mechanisms of Gate leakage in GaN-based HEMTs at Low Dose Rate Irradiation
IEEE access, 2024-01, Vol.12, p.1-1
2024
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A Flexible State-of-Health Prediction Scheme for Lithium-Ion Battery Packs With Long Short-Term Memory Network and Transfer Learning
IEEE transactions on transportation electrification, 2021-12, Vol.7 (4), p.2238-2248
2021
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Impact of High TID Irradiation on Stability of 65 nm SRAM Cells
IEEE transactions on nuclear science, 2022-05, Vol.69 (5), p.1044-1050
2022
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Impact of TID on Within-Wafer Variability of Radiation-Hardened SOI Wafers
IEEE transactions on nuclear science, 2021-07, Vol.68 (7), p.1423-1429
2021
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Measurement and Evaluation of the Within-Wafer TID Response Variability on BOX Layer of SOI Technology
IEEE transactions on nuclear science, 2021-10, Vol.68 (10), p.2516-2523
2021
Open Access
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PCB Layout Optimization of High-Frequency Inverter for Magnetic Coupled Resonance Wireless Power Transfer System
IEEE access, 2019, Vol.7, p.171395-171404
2019
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Total Ionizing Dose Effects on 22 nm UTBB FD-SOI MOSFETs up to 100 Mrad(Si)
IEEE transactions on electron devices, 2024-06, Vol.71 (6), p.3490-3497
2024
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