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Bias Dependence of Total Ionizing Dose Response in UTBB FD-SOI transistors
IEEE transactions on nuclear science, 2022-12, Vol.69 (12), p.1-1
2022
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Impact of TID on Within-Wafer Variability of Radiation-Hardened SOI Wafers
IEEE transactions on nuclear science, 2021-07, Vol.68 (7), p.1423-1429
2021
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Measurement and Evaluation of the Within-Wafer TID Response Variability on BOX Layer of SOI Technology
IEEE transactions on nuclear science, 2021-10, Vol.68 (10), p.2516-2523
2021
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