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Impact of TID Irradiation on Static Noise Margin of 22 nm UTBB FD-SOI 6-T SRAM Cells
IEEE transactions on nuclear science, 2024-03, Vol.71 (3), p.281-287
2024
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Comparison of Total Ionizing Dose Effects in 16-nm Core and I/O n-FinFETs
IEEE transactions on nuclear science, 2024-02, Vol.71 (2), p.167-175
2024
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Comparison of Total Ionizing Dose Effects in 16nm Core and I/O n-FinFETs
IEEE transactions on nuclear science, 2024, p.1-1
2024
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Impact of TID Irradiation on Static Noise Margin of 22nm UTBB FD-SOI 6-T SRAM Cells
IEEE transactions on nuclear science, 2024, p.1-1
2024
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Anneal Behavior of Total Ionizing Dose Irradiated UTBB FD-SOI n-MOSFETs Activated by Hot Carrier Stress
IEEE transactions on nuclear science, 2023-01, Vol.70 (1), p.37-43
2023
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Impact of High TID Irradiation on Stability of 65 nm SRAM Cells
IEEE transactions on nuclear science, 2022-05, Vol.69 (5), p.1044-1050
2022
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Bias Dependence of Total Ionizing Dose Response in UTBB FD-SOI transistors
IEEE transactions on nuclear science, 2022-12, Vol.69 (12), p.1-1
2022
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Impact of TID on Within-Wafer Variability of Radiation-Hardened SOI Wafers
IEEE transactions on nuclear science, 2021-07, Vol.68 (7), p.1423-1429
2021
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Measurement and Evaluation of the Within-Wafer TID Response Variability on BOX Layer of SOI Technology
IEEE transactions on nuclear science, 2021-10, Vol.68 (10), p.2516-2523
2021
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