Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Sortiert nach
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Total Ionizing Dose Effects on 22 nm UTBB FD-SOI MOSFETs up to 100 Mrad(Si)
IEEE transactions on electron devices, 2024-06, Vol.71 (6), p.3490-3497
2024
Open Access
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
A Flexible State-of-Health Prediction Scheme for Lithium-Ion Battery Packs With Long Short-Term Memory Network and Transfer Learning
IEEE transactions on transportation electrification, 2021-12, Vol.7 (4), p.2238-2248
2021
Open Access
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Degradation Mechanisms of Gate Leakage in GaN-Based HEMTs at Low Dose Rate Irradiation
IEEE access, 2024, Vol.12, p.35410-35416
2024
Link zum Volltext
Verfügbarkeit prüfen
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Measurement and Evaluation of the Within-Wafer TID Response Variability on BOX Layer of SOI Technology
IEEE transactions on nuclear science, 2021-10, Vol.68 (10), p.2516-2523
2021
Open Access
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
PCB Layout Optimization of High-Frequency Inverter for Magnetic Coupled Resonance Wireless Power Transfer System
IEEE access, 2019, Vol.7, p.171395-171404
2019
Link zum Volltext
Verfügbarkeit prüfen
1 – 5 von 5
Suche als RSS-Feed
Aktive Filter
KollektionTaylor & Francis Current Content Access
Nur zeigenMit Volltextzugriff
ThemaRadiation
KollektionIEEE Electronic Library (IEL)
ThemaLogic Gates
ThemaScience & Technology
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigen