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IEEE Standard for Integrated Circuit (IC) Open Library Architecture (OLA)
IEEE Std 1481-2019 (Revision of IEEE Std 1481-2009), 2020, p.1-641
2020
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IEEE/IEC International Standard--Delay and power calculation standards--Part 1: Integrated Circuit (IC) Open Library Architecture (OLA)
IEC 61523-1:2023-10 (IEEE Std 1481-2019), 2023, p.1-646
2023
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IEEE Standard for Integrated Circuit (IC) Open Library Architecture (OLA) - Redline
IEEE Std 1481-2019 (Revision of IEEE Std 1481-2009) - Redline, 2020, p.1-953
2020
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IEEE Standard Format for LSI-Package-Board Interoperable Design
IEEE Std 2401-2015, 2015, p.1-206
2015
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IEEE Standard Format for LSI-Package-Board Interoperable Design
IEEE Std 2401-2015, 2015, p.1-206
2015
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IEEE Standard for High-Speed Test Access Port and On-Chip Distribution Architecture
IEEE Std 1149.10-2017, 2017, p.1-96
2017
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IEEE Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
IEEE Std 1149.1-2013 (Revision of IEEE Std 1149.1-2001), 2013, p.1-444
2013
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IEEE Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
IEEE Std 1149.1-2013 (Revision of IEEE Std 1149.1-2001), 2013, p.1-444
2013
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IEEE Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture - Redline
IEEE Std 1149.1-2013 (Revision of IEEE Std 1149.1-2001) - Redline, 2013, p.1-899
2013
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IEEE Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture - Redline
IEEE Std 1149.1-2013 (Revision of IEEE Std 1149.1-2001) - Redline, 2013, p.1-899
2013
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IEEE Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) (IEEE Std 1450-1999) for Test Flow Specification
IEEE Std 1450.4-2017, 2018, p.1-190
2018
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IEEE Standard for Boundary-Scan-Based Stimulus of Interconnections to Passive and/or Active Components
IEEE Std 1149.8.1-2012, 2012, p.1-95
2012
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IEEE Standard for Boundary-Scan-Based Stimulus of Interconnections to Passive and/or Active Components
IEEE Std 1149.8.1-2012, 2012, p.1-95
2012
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IEC/IEEE Behavioural Languages - Part 5: VITAL ASIC (Application Specific Integrated Circuit) Modeling Specification (Adoption of IEEE Std 1076.4-2000)
IEC 61691-5 First edition 2004-10; IEEE 1076.4, 2004, p.0_1-434
2004
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IEEE Standard for Integrated Circuit (IC) Open Library Architecture (OLA)
IEEE STD 1481-2009, 2010, p.1-658
2010
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IEEE Draft Standard for Static Component Interconnection Test Protocol and Architecture
IEEE P1581/D1.33, September 2010, 2010, p.1-62
2010
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IEEE Standard for Static Component Interconnection Test Protocol and Architecture
IEEE Std 1581-2011, 2011, p.1-61
2011
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IEEE Standard for Static Component Interconnection Test Protocol and Architecture
IEEE Std 1581-2011, 2011, p.1-61
2011
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IEEE Recommended Practice for Latchup Test Methods for CMOS and BiCMOS Integrated-Circuit Process Characterization
IEEE Std 1181-1991, 1991, p.0_1
1991
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IEEE Recommended Practice for Latchup Test Methods for CMOS and BiCMOS Integrated-Circuit Process Characterization
IEEE Std 1181-1991, 1991, p.0_1
1991
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IEEE Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits
IEEE Std 1500-2022 (Revision of IEEE Std 1500-2005), 2022, p.1-168
2022
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IEC/IEEE International Standard - Behavioral Languages - Part 5: Standard VITAL ASIC (Application Specific Integrated Circuit) Modeling Specification
IEEE 1076.4 IEC 61691-5 First edition 2004-10, 2004, p.1-429
2004
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IEEE Standard for Integrated Circuit (IC) Delay and Power Calculation System
IEEE Std 1481-1999, 2000, p.1-400
2000
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IEEE Standard VITAL ASIC (Application Specific Integrated Circuit) Modeling Specification
IEEE Std 1076.4-2000, 2001, p.1-448
2001
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IEC/IEEE International Standard - Advanced Library Format (ALF) Describing Integrated Circuit (IC) Technology, Cells, and Blocks
IEC 62265-2005 First edition 2005-07 IEEE Std 1603, 2004, p.1-300
2004
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SpracheUrdu
ThemaPhysics
PublikationsformNormen
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