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Computation of the Onset of Point Defect Aggregation in Crystalline Silicon Using an Empirical Interatomic Potential
MRS proceedings, 1995, Vol.378, p.95-100, Article 95
1995
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Study of Oxygen Diffusion and Clustering in Silicon Using an Empirical Interatomic Potential
MRS proceedings, 1995, Vol.378, p.89-94, Article 89
1995
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Light-Emitting Diodes Based on Conjugated Polymers: Control of Colour and Efficiency
MRS proceedings, 1992, Vol.247, Article 647
1992
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Atomistic Simulations of Point Defect Properties in Silicon
MRS proceedings, 1992, Vol.278, Article 115
1992
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Density-Functional Thermodynamic Perturbation Theory of Lennard-Jones Solids
MRS proceedings, 1992, Vol.278, Article 21
1992
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Nanoindentation and Nanoscratching of Hard Carbon Coatings for Magnetic Disks
MRS proceedings, 1995, Vol.383, p.447-452, Article 447
1995
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Effects of Structural Properties of Hf-Based Gate Stack on Transistor Performance
MRS proceedings, 2004, Vol.811, Article D2.6
2004
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Focused Ion Beam Milling and Micromanipulation Lift-Out for Site Specific Cross-Section Tem Specimen Preparation
MRS proceedings, 1997, Vol.480, Article 19
1997
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The Role of Impurities in Hydride Vapor Phase Epitaxially Grown Gallium Nitride
MRS proceedings, 1995, Vol.378, p.479-484, Article 479
1995
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The Structural Phase Transition in Individual Vanadium Dioxide Nanoparticles
MRS proceedings, 2009, Vol.1184 (1), p.68-74, Article 1184-GG02-04
2009
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Modeling of Aluminum Induced Lateral Crystallization of Hydrogenated Amorphous Silicon
MRS proceedings, 2004, Vol.808, Article A4.26
2004
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Gallium Nitride Thick Films Grown by Hydride Vapor Phase Epitaxy
MRS proceedings, 1996, Vol.423, Article 221
1996
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Silicides for the 65 nm Technology Node
MRS proceedings, 2003, Vol.766, Article E10.1
2003
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Mechanical and Metallographic Characterization of Liga Fabricated Nickel and 80%Ni-20%Fe Permalloy
MRS proceedings, 1998, Vol.518, Article 185
1998
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Adhesion of Polysilicon Microbeams in Controlled Humidity Ambients
MRS proceedings, 1998, Vol.518, Article 131
1998
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The Fracture Toughness of Polysilicon Microdevices
MRS proceedings, 1998, Vol.518, Article 137
1998
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Wafer Scale Testing of MEMS Structural Films
MRS proceedings, 2000-01, Vol.594, Article 195
2000
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Chemistry of Glass Corrosion in High Saline Brines
MRS proceedings, 1989, Vol.176, Article 229
1989
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The Influence of Surface Morphology and Oxide Microstructure on the Nucleation and Growth of Uranium Hydride on Alpha Uranium
MRS proceedings, 1998, Vol.513, Article 43
1998
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The Adhesion of Polymer-Polymer Interfaces
MRS proceedings, 1992, Vol.264, Article 183
1992
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An Oxygen Potential Gradient as a Possible Diffusion Driving Force
MRS proceedings, 1998, Vol.527, Article 497
1998
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The Effect of Impurities in Tin Film When Used As Mos Gate Electrodes
MRS proceedings, 1998, Vol.514, Article 343
1998
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Computer Simulations of Thermal Switching in Small-Grain Ferromagnets
MRS proceedings, 1998-01, Vol.517, Article 279
1998
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Curvature of A Cantilever Beam Subjected to An Equi-Biaxial Bending Moment
MRS proceedings, 1998, Vol.518, Article 67
1998
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Evaluating Mechanical Properties of Thin Layers using Nanoindentation and Finite-Element Modeling: Implanted Metals and Deposited Layers
MRS proceedings, 1996, Vol.438, Article 617
1996
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