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Nanosized-Metal-Grain-Induced Characteristic Fluctuation in 16 nm Complementary Metal–Oxide–Semiconductor Devices and Digital Circuits
Japanese Journal of Applied Physics, 2011-04, Vol.50 (4S), p.4
2011
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ent-Kaurane Glycosides from Tricalysia okelensis
Chemical & Pharmaceutical Bulletin, 2010, Vol.58 (2), p.261-265
2010
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Effect of intrinsic-parameter fluctuations on 16-nm-gate CMOS and current mirror circuit
10th IEEE International Conference on Nanotechnology, 2010, p.798-801
2010
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The role of atopic diathesis in the development of immediate penicillin allergy
Nishi Nihon hifuka, 1989, Vol.51 (4), p.735-738
1989
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A unified 3D device simulation of random dopant, interface trap and work function fluctuations on high-к/metal gate device
2011 International Electron Devices Meeting, 2011, p.5.5.1-5.5.4
2011
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