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Monthly notices of the Royal Astronomical Society, 2019-01, Vol.482 (1), p.881-894
2019
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Electronics letters, 2003-05, Vol.39 (9), p.749
2003
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Electronics letters, 2005-01, Vol.41 (2), p.101-103
2005
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Pulsed voltage stress on thin oxides
Electronics letters, 2000-07, Vol.36 (15), p.1319-1320
2000
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Electronics letters, 1992, Vol.28 (22), p.2107-2109
1992
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Electronics letters, 2003-05, Vol.39 (9), p.1-1
2003
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Quality and reliability engineering international, 1993-07, Vol.9 (4), p.371-376
1993
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Pulsed voltage stress on thin oxides
Electronics letters, 2000-07, Vol.36 (15), p.1-1
2000
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Degradation mechanisms in 2 W MESFETs
Quality and reliability engineering international, 1991-07, Vol.7 (4), p.343-349
1991
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Electronics letters, 1987, Vol.23 (2), p.83
1987
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Electronics letters, 1988-05, Vol.24 (11), p.708-709
1988
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Meteorological applications, 2022-09, Vol.29 (5), p.n/a
2022
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International labour review, 2021-03, Vol.160 (1), p.85-112
2021
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