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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Astronomy and astrophysics (Berlin), 2007-04, Vol.465 (3), p.913-929
2007
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Journal of the American Chemical Society, 2001-05, Vol.123 (18), p.4368-4369
2001
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Journal of zoology (1987), 2018-09, Vol.306 (1), p.1-7
2018
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Conservation genetics, 2019-02, Vol.20 (1), p.65-80
2019
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Continental Shelf Research, 2001-12, Vol.21 (18), p.1975-1997
2001
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IEEE electron device letters, 2009-12, Vol.30 (12), p.1377-1379
2009
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Solid-state electronics, 2011-11, Vol.65-66, p.205-210
2011
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The Journal of heart and lung transplantation, 2013-04, Vol.32 (4), p.S20-S20
2013
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Journal of fish biology, 2005-09, Vol.67 (3), p.767-778
2005
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IEEE journal of solid-state circuits, 2011-01, Vol.46 (1), p.293-307
- Van der Plas, G
- Limaye, P
- Loi, I
- Mercha, A
- Oprins, H
- Torregiani, C
- Thijs, S
- Linten, D
- Stucchi, M
- Katti, G
- Velenis, D
- Cherman, V
- Vandevelde, B
- Simons, V
- De Wolf, I
- Labie, R
- Perry, D
- Bronckers, S
- Minas, N
- Cupac, M
- Ruythooren, W
- Van Olmen, J
- Phommahaxay, A
- de Potter de ten Broeck, M
- Opdebeeck, A
- Rakowski, M
- De Wachter, B
- Dehan, M
- Nelis, M
- Agarwal, R
- Pullini, A
- Angiolini, F
- Benini, L
- Dehaene, W
- Travaly, Y
- Beyne, E
- Marchal, P
2011
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IEEE transactions on circuits and systems. II, Express briefs, 2010-03, Vol.57 (3), p.183-187
2010
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2010 Symposium on VLSI Technology, 2010, p.161-162
2010
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2024 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2024, p.1-2
2024
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2011 International Reliability Physics Symposium, 2011, p.2D.3.1-2D.3.6
2011
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Probiotics and antimicrobial proteins, 2009-12, Vol.1 (2), p.97-112
2009
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2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2021, p.22.5.1-22.5.4
- Gupta, A.
- Radisic, D.
- Maes, J. W.
- Pedreira, O. Varela
- Soulie, J-P.
- Jourdan, N.
- Mertens, H.
- Bandyopadhyay, S.
- Le, Q. T.
- Pacco, A.
- Heylen, N.
- Vandersmissen, K.
- Devriendt, K.
- Zhu, C.
- Datta, S.
- Sebaai, F.
- Wang, S.
- Mousa, M.
- Lee, J.
- Geypen, J.
- De Wachter, B.
- Chehab, B.
- Salahuddin, S. M.
- Murdoch, G.
- Biesemans, S.
- Tokei, Zs
- Litta, E. Dentoni
- Horiguchi, N.
2021
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2010 Proceedings of the European Solid State Device Research Conference, 2010, p.154-157
2010
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The Lancet global health, 2017-04, Vol.5 (S1), p.S10-S10
2017
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Journal of solid state chemistry, 2007-02, Vol.180 (2), p.420-431
2007
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2010 IEEE International SOI Conference (SOI), 2010, p.1-2
2010
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Journal of non-crystalline solids, 2008-07, Vol.354 (30), p.3643-3648
2008
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2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2019, p.19.3.1-19.3.4
- Vega-Gonzalez, V.
- Bekaert, J.
- Kesters, E.
- Le, Q. T.
- Lorant, C.
- Varela P., O.
- Teugels, L.
- Heylen, N.
- El-Mekki, Z.
- van der Veen, M.
- Webers, T.
- Wilson, C. J.
- Vats, H.
- Rynders, L.
- Cupak, M.
- Uk-Lee, J.
- Drissi, Y.
- Halipre, L.
- Charley, A.-L.
- Verdonck, P.
- Witters, T.
- Gompel, S. V.
- Briggs, B.
- Kimura, Y.
- Jourdan, N.
- Ciofi, I.
- Gupta, A.
- Contino, A.
- Boccardi, G.
- Lariviere, S.
- Dupas, L.
- De-Wachter, B.
- Vancoille, E.
- Decoster, S.
- Lazzarino, F.
- Ercken, M
- Debacker, P.
- Kim, R.
- Trivkovic, D.
- Croes, K.
- Leray, P.
- Dillemans, L.
- Chen, Y.-F.
- Tokei, Z.
- Versluijs, J.
- Lesniewska, A.
- Paolillo, S.
- Baert, R.
- Puliyalil, H.
2019
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2021 IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC), 2021, p.1-3
- Vega-Gonzalez, V.
- Montero, D.
- Versluijs, J.
- Pedreira, O. Varela
- Jourdan, N.
- Puliyalil, H.
- Chehab, B.
- Peissker, T.
- Haider, A.
- Batuk, D.
- Martinez, G. T.
- Geypen, J.
- Le, Q. T.
- Bazzazian, N.
- Heylen, N.
- van der Veen, M.
- El-Mekki, Z.
- Webers, T.
- Vats, H.
- Rynders, L.
- Cupak, M.
- Uk-Lee, J.
- Drissi, Y.
- Halipre, L.
- Gillijns, W.
- Charley, A.-L.
- Verdonck, P.
- Witters, T.
- Gompel, S. V.
- Kimura, Y.
- Ciofi, I.
- De Wachter, B.
- Swerts, J.
- Grieten, E.
- Ercken, M.
- Kim, R.
- Croes, K.
- Leray, P.
- Jaysankar, M.
- Nagesh, N.
- Ramakers, L.
- Murdoch, G.
- Park, S.
- Tokei, Z.
- Dentoni-Litta, E.
- Horiguchi, N.
2021
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2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, p.20.5.1-20.5.4
- Vega-Gonzalez, V.
- Puliyalil, H.
- Versluijs, J.
- Lesniewska, A.
- Varela-Pereira, O.
- Baert, R.
- Paolillo, S.
- Decoster, S.
- Schleicher, F.
- Montero, D.
- Bekaert, J.
- Kesters, E.
- Le, Q. T.
- Lorant, C.
- Teugels, L.
- Heylen, N.
- Jourdan, N.
- El-Mekki, Z.
- van der Veen, M.
- Ciofi, I.
- Briggs, B.
- Heijlen, J.
- Dupas, L.
- De-Wachter, B.
- Vancoille, E.
- Webers, T.
- Vats, H.
- Rynders, L.
- Cupak, M.
- Uk-Lee, J.
- Drissi, Y.
- Halipre, L.
- Charley, A.-L.
- Verdonck, P.
- Witters, T.
- Gompel, S. V.
- Kimura, Y.
- Demonie, I.
- Lazzarino, F.
- Ercken, M
- Kim, R.
- Trivkovic, D.
- Croes, K.
- Leray, P.
- Jaysankar, M.
- Wilson, C.
- Muroch, G.
- Tokei, Z.
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