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Function-based ATPG for Path Delay Faults using the Launch-Off-Capture Scan Architecture
20th International Conference on VLSI Design held jointly with 6th International Conference on Embedded Systems (VLSID'07), 2007, p.805-812
2007
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Function-Based Test Generation for (Non-Robust) Path Delay Faults Using the Launch-off-Capture Scan Architecture
8th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED'07), 2007, p.717-722
2007
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