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2011
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Solid-state electronics, 2011-09, Vol.63 (1), p.105-109
2011
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2006
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2007
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Solid-state electronics, 2007-05, Vol.51 (5), p.757-761
2007
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Factory and Field Tests of a 220 kV/300 MVA Statured Iron-Core Superconducting Fault Current Limiter
2013
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IEEE electron device letters, 2013-04, Vol.34 (4), p.487-489
2013
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Microelectronic engineering, 2008-03, Vol.85 (3), p.493-499
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2011
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2010
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Microelectronic engineering, 1999, Vol.48 (1), p.283-286
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Microelectronic engineering, 2005-07, Vol.81 (1), p.162-167
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Microelectronic engineering, 2004-04, Vol.72 (1-4), p.218-222
2004
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Microelectronics and reliability, 2014-09, Vol.54 (9-10), p.1774-1778
2014
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IEEE transactions on power electronics, 2013-10, Vol.28 (10), p.4831-4840
2013
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IEEE transactions on applied superconductivity, 2011-06, Vol.21 (3), p.3049-3054
2011
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Microelectronics and reliability, 2012-09, Vol.52 (9-10), p.1848-1852
2012
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IEEE transactions on electron devices, 2005-10, Vol.52 (10), p.2198-2206
2005
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IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2009-11, Vol.57 (11), p.2727-2742
2009
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IEEE transactions on power electronics, 2013-08, Vol.28 (8), p.3675-3688
2013
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IEEE electron device letters, 2012-06, Vol.33 (6), p.857-859
2012
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IEEE transactions on applied superconductivity, 2012-06, Vol.22 (3), p.4001404-4001404
2012
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