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Microelectronics and reliability, 2002-09, Vol.42 (9), p.1653-1658
2002
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2008-07, Vol.16 (7), p.830-836
2008
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European physical journal plus, 2021-03, Vol.136 (3), p.335, Article 335
2021
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2003 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2003. 41st Annual, 2003, p.523-528
2003
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Classical and quantum gravity, 2010-04, Vol.27 (8), p.084002-084002
2010
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