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Combined Emission with simulation technique to resolve unstable failure mode sample
2012 10th IEEE International Conference on Semiconductor Electronics (ICSE), 2012, p.444-447
2012
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A novel optical structure of numerical aperture increasing lens (NAIL) for resolution improvement in backside failure analysis
Proceedings of the 20th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2013, p.501-503
2013
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