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2006
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2018 IEEE International Test Conference (ITC), 2018, p.1-9
2018
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2010 19th IEEE Asian Test Symposium, 2010, p.355-360
2010
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2006 15th Asian Test Symposium, 2006, p.139-146
2006
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2024-02, Vol.43 (2), p.1-1
2024
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2008 17th Asian Test Symposium, 2008, p.329-336
2008
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2022 IEEE 40th VLSI Test Symposium (VTS), 2022, p.1-7
2022
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2022 IEEE International Test Conference (ITC), 2022, p.305-313
2022
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2022 IEEE International Test Conference (ITC), 2022, p.20-27
2022
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2022 IEEE International Test Conference (ITC), 2022, p.479-483
2022
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2021 IEEE International Test Conference (ITC), 2021, p.260-267
2021
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2023 IEEE European Test Symposium (ETS), 2023, p.i-i
2023
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2018 IEEE International Test Conference (ITC), 2018, p.1-9
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2016 29th International Conference on VLSI Design and 2016 15th International Conference on Embedded Systems (VLSID), 2016, p.14-16
2016
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2015 IEEE 33rd VLSI Test Symposium (VTS), 2015, p.1-1
2015
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2020 IEEE 38th VLSI Test Symposium (VTS), 2020, p.1-6
2020
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2018 IEEE International Test Conference (ITC), 2018, p.1-9
2018
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2020 IEEE International Test Conference (ITC), 2020, p.1-10
2020
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2016 IEEE International Test Conference (ITC), 2016, p.1-10
2016
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2019 IEEE 37th VLSI Test Symposium (VTS), 2019, p.1-6
2019
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2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS), 2016, p.61-66
2016
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2018 IEEE 36th VLSI Test Symposium (VTS), 2018, p.1-6
2018
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2017 IEEE International Test Conference (ITC), 2017, p.1-9
2017
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2022 IEEE 40th VLSI Test Symposium (VTS), 2022, p.1-7
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