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Mechanical Properties of Intermetallic Compounds in the Au–Sn System
Journal of materials research, 2005-08, Vol.20 (8), p.2161-2172
2005
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The influence of strain energy on abnormal grain growth in copper thin films
Applied physics letters, 1995-08, Vol.67 (8), p.1078-1080
1995
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Growths of InGaN quantum wells light-emitting diodes on nano-patterned AGOG sapphire substrate using abbreviated growth mode
2009 Conference on Lasers and Electro-Optics and 2009 Conference on Quantum electronics and Laser Science Conference, 2009, p.1-2
2009
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Thin Films: Texture Effects on Mechanical Properties
Encyclopedia of Materials: Science and Technology, 2011, p.9283-9285
2011
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Observations of Low Cycle Fatigue of Al Thin Films for Mems Applications
MRS proceedings, 1998, Vol.518, Article 81
1998
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Effects of barrier layer and processing conditions on thin film Cu microstructure
Journal of electronic materials, 1995-10, Vol.24 (10), p.1485-1492
1995
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Thermal Stresses in Passivated Copper Interconnects Determined by X-Ray Analysis and Finite Element Modeling
MRS proceedings, 1994, Vol.338, Article 289
1994
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The Effects of Processing on the Microstructure of Copper Thin Films on Tantalum Barrier Layers
MRS proceedings, 1995, Vol.391, Article 303
1995
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Influence of Film Thickness and Capping Layer on the Mechanical Properties of Copper Films
MRS proceedings, 1995, Vol.391, Article 309
1995
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A Simple Analysis of Average Mechanical Behavior and Strain Energy Density of Misoriented Grains in a Textured Film
MRS proceedings, 1995, Vol.391, Article 97
1995
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Improved Photoluminescence of InGaN Quantum Wells Grown on Nano-Patterned AGOG Sapphire Substrate by Metalorganic Vapor Phase Epitaxy
LEOS 2007 - IEEE Lasers and Electro-Optics Society Annual Meeting Conference Proceedings, 2007, p.902-903
2007
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Mechanical testing of thin films
TRANSDUCERS '91: 1991 International Conference on Solid-State Sensors and Actuators. Digest of Technical Papers, 1991, p.943-948
1991
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Femtosecond-irradiation-induced refractive-index changes and channel waveguiding in bulk Ti{sup 3+}:Sapphire
Applied physics letters, 2004-08, Vol.85 (7)
2004
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