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Reliability of thin SiO2
Semiconductor science and technology, 1994-05, Vol.9 (5), p.989-1004
1994
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IEEE journal of the Electron Devices Society, 2013-03, Vol.1 (3), p.66-75
2013
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2013 IEEE 5th International Nanoelectronics Conference (INEC), 2013, p.367-370
2013
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MRS proceedings, 1995, Vol.387, p.187-200, Article 187
1995
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Reliability of thin SiO 2
Semiconductor science and technology, 1994-05, Vol.9 (5), p.989-1004
1994
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IEEE journal of solid-state circuits, 1979-06, Vol.SC-14, p.578-584
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1974 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers, 1974, Vol.XVII, p.16-17
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Zeitschrift für Naturforschung. A, A journal of physical sciences, 1960-04, Vol.15 (4), p.368-369
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31st Annual Proceedings Reliability Physics 1993, 1993, p.7-12
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Proceedings of the 1999 Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (Cat. No.99CH37024), 1999, p.125-128
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ISPRS annals of the photogrammetry, remote sensing and spatial information sciences, 2022-01, Vol.V-2-2022, p.407-414
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1997 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 35th Annual, 1997, p.7-11
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I.R.E. transactions on electron devices, 1962-01, Vol.9 (1), p.114-114
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ESSCIRC 78: 4th European Solid State Circuits Conference - Digest of Technical Papers, 1978, p.43-46
1978
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ISPRS annals of the photogrammetry, remote sensing and spatial information sciences, 2023-01, Vol.X-1/W1-2023, p.971-979
2023
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Phosphate Turnover and Pasteur Effect
Ciba Foundation Symposium — Regulation of Cell Metabolism, 1959, p.256-276
1959
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