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Microelectronics and reliability, 2012-08, Vol.52 (8), p.1636-1639
2012
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Microelectronics and reliability, 2012-08, Vol.52 (8), p.1606-1609
2012
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Applied physics letters, 2001-06, Vol.78 (24), p.3842-3844
2001
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Journal of the Electrochemical Society, 2001, Vol.148 (1), p.G1
2001
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Applied physics letters, 2004-05, Vol.84 (19), p.3810-3812
2004
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Journal of the American Ceramic Society, 2007-09, Vol.90 (9), p.2703-2708
2007
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Solid state ionics, 2003-03, Vol.159 (1), p.111-119
2003
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Journal of applied physics, 2005-02, Vol.97 (4), p.044305-044305-6
2005
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Journal of vacuum science & technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 2005-09, Vol.23 (5), p.1309-1313
2005
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Journal of vacuum science & technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 2000-11, Vol.18 (6), p.2864-2868
2000
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Applied physics letters, 2000-09, Vol.77 (11), p.1647-1649
2000
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Applied surface science, 2008-11, Vol.255 (2), p.388-390
2008
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