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Computers & electrical engineering, 2020-06, Vol.84, p.106615-17, Article 106615
2020
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Microprocessors and microsystems, 2019-09, Vol.69, p.43-53
2019
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Integration (Amsterdam), 2018-06, Vol.62, p.132-141
2018
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Microprocessors and microsystems, 2020-06, Vol.75, p.102999, Article 102999
2020
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Integration (Amsterdam), 2019-05, Vol.66, p.128-134
2019
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Measurement : journal of the International Measurement Confederation, 2012-08, Vol.45 (7), p.1937-1939
2012
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Tsinghua science and technology, 2010-06, Vol.15 (3), p.259-264
2010
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Measurement : journal of the International Measurement Confederation, 2017-11, Vol.110, p.116-120
2017
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Journal of China universities of posts and telecommunications, 2011-06, Vol.18 (3), p.120-123
2011
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Measurement : journal of the International Measurement Confederation, 2018-07, Vol.122, p.186-191
2018
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Nanoscale FETs
Advances in Imaging and Electron Physics, 2012, Vol.174, p.261-347
2012
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Measurement : journal of the International Measurement Confederation, 1996-08, Vol.18 (4), p.201-205
1996
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Computers & electrical engineering, 2022-05, Vol.100, p.107907, Article 107907
2022
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Computers & electrical engineering, 2021-06, Vol.92, p.107134, Article 107134
2021
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Computers & electrical engineering, 2019-06, Vol.76, p.364-378
2019
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Measurement : journal of the International Measurement Confederation, 2019-10, Vol.145, p.264-273
2019
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Journal of alloys and compounds, 2013-05, Vol.560, p.6-9
2013
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Ceramics international, 2013-07, Vol.39 (5), p.4777-4782
2013
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Photonics and nanostructures, 2020-09, Vol.41, p.100803, Article 100803
2020
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Medical image analysis, 2021-05, Vol.70, p.102018-102018, Article 102018
2021
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