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Technische Störung

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  • BibTeX
Raman Spectroscopy and Electron Microscopy Studies of Ga FIB and Post-FIB Ar Ion Milling's Impact on Si TEM Specimens
Microscopy and microanalysis, 2022-08, Vol.28 (S1), p.52-53
2022
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  • BibTeX
Site-specific Sample Preparation by Concentrated Ar Ion Milling for Post-mortem Atomic Resolution Imaging of Rapidly Solidified Al-Cu Thin Films After Pulsed Laser Melting
Microscopy and microanalysis, 2022-08, Vol.28 (S1), p.124-125
2022
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  • BibTeX
Argon Milling of Bulk and Post-FIB Specimens for Multi-Length Scale Analyses by EBSD, TEM, and APT under Controlled Environments
Microscopy and microanalysis, 2022-08, Vol.28 (S1), p.3176-3178
2022
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  • BibTeX
Low-Energy Argon Broad Ion Beam and Narrow Ion Beam Milling of In Situ Lift-Out FIB Specimens
Microscopy and microanalysis, 2018-08, Vol.24 (S1), p.862-863
2018
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  • BibTeX
Accurate Removal of Implanted Gallium and Amorphous Damage from TEM Specimens after Focused Ion Beam (FIB) Preparation
Microscopy and microanalysis, 2017-07, Vol.23 (S1), p.300-301
2017
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  • BibTeX
Post-FIB Specimen Preparation of Atom Probe Specimens under Controlled Environments for Correlative Microscopy
Microscopy and microanalysis, 2019-08, Vol.25 (S2), p.2554-2555
2019
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  • BibTeX
Controlled Environments from Sample Preparation to Electron Microscopy Characterization
Microscopy and microanalysis, 2019-08, Vol.25 (S2), p.698-699
2019
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  • BibTeX
Sample preparation for aberration-corrected microscopy of high-quality TEM specimens of advanced integrated circuits
Microscopy and microanalysis, 2018-08, Vol.24 (S1), p.150-151
2018
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  • BibTeX
Narrow-Beam Argon Ion Milling of Carbon-Supported Ex Situ Lift-Out FIB Specimens
Microscopy and microanalysis, 2017-07, Vol.23 (S1), p.302-303
2017
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  • BibTeX
Targeted Ion Milling of Ex Situ Lift-Out FIB Specimens
Microscopy and microanalysis, 2017-07, Vol.23 (S1), p.268-269
2017
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  • BibTeX
Removal of Ga Implantation on FIB-prepared Atom Probe Specimens Using Small Beam and Low Energy Ar+ Milling
Microscopy and microanalysis, 2018-08, Vol.24 (S1), p.1118-1119
2018
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  • BibTeX
Automatic End-point Detection for Ar+ Milling of FIB in situ and ex situ Lift-out Specimens from Semiconductor Devices
Microscopy and microanalysis, 2018-08, Vol.24 (S1), p.854-855
2018
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  • BibTeX
Local Current-activated Growth of Nanometric Nickel Pillars During In situ STM-TEM Experiments
Microscopy and microanalysis, 2013-08, Vol.19 (S2), p.504-505
2013
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  • BibTeX
A unified view of homology
Cladistics, 2023-10, Vol.39 (5), p.398-417
2023
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