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Microelectronics and reliability, 2012-09, Vol.52 (9-10), p.2164-2167
2012
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Microelectronics and reliability, 2013-09, Vol.53 (9-11), p.1529-1533
2013
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Microelectronics and reliability, 2013-09, Vol.53 (9-11), p.1538-1542
2013
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Microelectronics and reliability, 2020-11, Vol.114, p.113896, Article 113896
2020
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Microelectronics and reliability, 2014-09, Vol.54 (9-10), p.2151-2153
2014
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XEBIC at the Dual Beam
Microelectronics and reliability, 2013-09, Vol.53 (9-11), p.1399-1402
2013
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Microelectronics and reliability, 2010-04, Vol.50 (4), p.471-478
2010
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Microelectronics and reliability, 2011-09, Vol.51 (9-11), p.1752-1756
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Failure Analysis-assisted FMEA
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2006
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Microelectronics and reliability, 2008-08, Vol.48 (8), p.1208-1211
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Microelectronics and reliability, 2013-09, Vol.53 (9-11), p.1524-1528
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Microelectronics and reliability, 2006-09, Vol.46 (9), p.1720-1724
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1988-11, Vol.7 (11), p.1164-1171
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Microelectronics and reliability, 2005-09, Vol.45 (9), p.1321-1326
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Microelectronics and reliability, 2003-09, Vol.43 (9), p.1737-1742
2003
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ESD tests on 850nm GaAs-based VCSELs
Microelectronics and reliability, 2016-09, Vol.64, p.617-622
2016
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Microelectronics and reliability, 2004-09, Vol.44 (9), p.1547-1552
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Microelectronics and reliability, 2015-08, Vol.55 (9-10), p.1736-1740
2015
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Microelectronics and reliability, 2017-09, Vol.76-77, p.579-583
2017
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