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BibTeX
秩和非参数检测器在杂波边缘中的性能
电子与信息学报, 2019-12, Vol.41 (12), p.2859-2864
孟祥伟
2019
Volltextzugriff (PDF)
Details
Autor(en) / Beteiligte
孟祥伟
Titel
秩和非参数检测器在杂波边缘中的性能
Ist Teil von
电子与信息学报, 2019-12, Vol.41 (12), p.2859-2864
Ort / Verlag
烟台南山学院电气与电子工程系 烟台265713
Erscheinungsjahr
2019
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Beschreibungen/Notizen
TN951; 人们常用Rohling教授提出的3种典型背景即均匀背景、多目标和杂波边缘来对检测器的恒虚警率(CFAR)性能进行衡量,但在现有的文献中缺乏秩和(RS)非参数检测器在杂波边缘中虚警概率的解析表达式,缺乏RS检测器与经典的参量型恒虚警率(CFAR)检测器在杂波边缘中虚警控制能力的比较,这在理论研究上是不完整、不全面的.该文给出了RS检测器在杂波边缘中虚警概率的解析表达式,并比较了它与非相干积累单元平均(CA),选大(GO)和有序统计(OS)恒虚警方法在杂波边缘中的虚警控制能力.可以看出,在强、弱杂波均为瑞利分布的情况下,RS检测器在杂波边缘的虚警控制能力处于非相干积累CA方法和非相干积累OS方法之间.但是当长拖尾分布的非高斯杂波进入参考滑窗时,非相干积累CA,GO和OS参量型检测方法的虚警概率都产生了3个以上数量级的上升,且不能回到原始设定的虚警概率.而RS检测器显示出了非参量检测器的优势,即当杂波背景的分布类型发生变化后,它仍然可以保持虚警概率的恒定.
Sprache
Chinesisch
Identifikatoren
ISSN: 1009-5896
DOI: 10.11999/JEIT190136
Titel-ID: cdi_wanfang_journals_dzkxxk201912009
Format
–
Weiterführende Literatur
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