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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Imaging Ultrafast Dynamical Diffraction Wave Fronts in Strained Si with Coherent X Rays
Ist Teil von
  • Physical review letters, 2021-10, Vol.127 (15), p.1-157402, Article 157402
Ort / Verlag
College Park: American Physical Society
Erscheinungsjahr
2021
Link zum Volltext
Quelle
American Physical Society Journals
Beschreibungen/Notizen
  • Dynamical diffraction effects in thin single crystals produce highly monochromatic parallel x-ray beams with a mutual separation of a few microns and a time delay of a few femtoseconds-the so-called echoes. This ultrafast diffraction effect is used at X-Ray Free Electron Lasers in self-seeding schemes to improve beam monochromaticity. Here, we present a coherent x-ray imaging measurement of echoes from Si crystals and demonstrate that a small surface strain can be used to tune their temporal delay. These results represent a first step toward the ambitious goal of strain tailoring new x-ray optics and, conversely, open up the possibility of using ultrafast dynamical diffraction effects to study strain in materials.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0031-9007, 1079-7114
eISSN: 1079-7114
DOI: 10.1103/PhysRevLett.127.157402
Titel-ID: cdi_swepub_primary_oai_research_chalmers_se_2f7469dc_42bf_4af2_983d_cdb988803d00

Weiterführende Literatur

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