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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
gm/Id Analysis of vertical nanowire III–V TFETs
Ist Teil von
  • Electronics letters, 2023-09, Vol.59 (18)
Erscheinungsjahr
2023
Link zum Volltext
Quelle
Wiley Online Library Journals Frontfile Complete
Beschreibungen/Notizen
  • Experimental data on analog performance of gate-all-around III-V vertical Tunnel Field-Effect Transistors (TFETs) and circuits are presented. The individual device shows a minimal subthreshold swing of 44 mV/dec and transconductance efficiency of 50 V−1 for current range of 9 nA/μm to 100 nA/μm and at a drain voltage of 100 mV. This TFET demonstrates translinearity between transconductance and drain current for over a decade of current, paving way for low power current-mode analog IC design. To explore this design principle, a current conveyor circuit is implemented, which exhibits large-signal voltage gain of 0.89 mV/mV, current gain of 1nA/nA and an operating frequency of 320 kHz. Furthermore, at higher drain bias of 500 mV, the device shows maximum transconductance of 72 μS/μm and maximum drain current of 26 μA/μm. The device, thereby, can be operated as a current mode device at lower bias voltage and as voltage mode device at higher bias voltage.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1350-911X
eISSN: 1350-911X
DOI: 10.1049/ell2.12954
Titel-ID: cdi_swepub_primary_oai_lup_lub_lu_se_fa56562e_dee1_4400_b8bc_ae66d116951a

Weiterführende Literatur

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