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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Charge Trapping by Self-Assembled Monolayers as the Origin of the Threshold Voltage Shift in Organic Field-Effect Transistors
Ist Teil von
  • Small (Weinheim an der Bergstrasse, Germany), 2012-01, Vol.8 (2), p.241-245
Ort / Verlag
Weinheim: WILEY-VCH Verlag
Erscheinungsjahr
2012
Link zum Volltext
Quelle
Wiley Online Library All Journals
Beschreibungen/Notizen
  • The threshold voltage is an important property of organic field‐effect transistors. By applying a self‐assembled monolayer (SAM) on the gate dielectric, the value can be tuned. After electrical characterization, the semiconductor is delaminated. The surface potentials of the revealed SAM perfectly agree with the threshold voltages, which demonstrate that the shift is not due to the dipolar contribution, but due to charge trapping by the SAM.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1613-6810, 1613-6829
eISSN: 1613-6829
DOI: 10.1002/smll.201101467
Titel-ID: cdi_swepub_primary_oai_DiVA_org_liu_141453

Weiterführende Literatur

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