Details

Autor(en) / Beteiligte

• Sommer, Gerald
• Krüger, Norbert
• Perwass, Christian

Titel

Mustererkennung 2000: 22. DAGM-Symposium. Kiel, 13. -15. September 2000

Auflage

1

Ort / Verlag

Berlin, Heidelberg: Springer Berlin / Heidelberg

Erscheinungsjahr

2000

Link zum Volltext

Quelle

Alma/SFX Local Collection

Beschreibungen/Notizen

• Die Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung veranstaltet seit 1978 jährlich an verschiedenen Orten ein wissenschaftliches Symposium mit dem Ziel, Aufgabenstellungen, Denkweisen und Forschungsergebnisse aus den Gebieten der Mustererkennung vorzustellen, den Erfahrungs- und Ideenaustausch zwischen den Fachleuten anzuregen und den Nachwuchs zu fördern. In dem dieses Jahr erstmals durchgeführten Kontaktforum unter dem Titel "Forum Industrie und Wissenschaft" findet der Austausch von Industrie und Wirtschaft besondere Beachtung.