Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Ergebnis 11 von 71

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Evaluation of serial crystallographic structure determination within megahertz pulse trains
Ist Teil von
  • Structural dynamics (Melville, N.Y.), 2019-11, Vol.6 (6), p.064702-064702
Ort / Verlag
United States: American Institute of Physics, Inc
Erscheinungsjahr
2019
Link zum Volltext
Quelle
EZB Free E-Journals
Beschreibungen/Notizen
  • The new European X-ray Free-Electron Laser (European XFEL) is the first X-ray free-electron laser capable of delivering intense X-ray pulses with a megahertz interpulse spacing in a wavelength range suitable for atomic resolution structure determination. An outstanding but crucial question is whether the use of a pulse repetition rate nearly four orders of magnitude higher than previously possible results in unwanted structural changes due to either radiation damage or systematic effects on data quality. Here, separate structures from the first and subsequent pulses in the European XFEL pulse train were determined, showing that there is essentially no difference between structures determined from different pulses under currently available operating conditions at the European XFEL.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 2329-7778
eISSN: 2329-7778
DOI: 10.1063/1.5124387
Titel-ID: cdi_scitation_primary_10_1063_1_5124387

Weiterführende Literatur

Empfehlungen zum selben Thema automatisch vorgeschlagen von bX