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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
β-Ga2O3 on insulator field-effect transistors with drain currents exceeding 1.5 A/mm and their self-heating effect
Ist Teil von
  • Applied physics letters, 2017-08, Vol.111 (9)
Ort / Verlag
Melville: American Institute of Physics
Erscheinungsjahr
2017
Link zum Volltext
Quelle
American Institute of Physics
Beschreibungen/Notizen
  • We have demonstrated that depletion/enhancement-mode β-Ga2O3 on insulator field-effect transistors can achieve a record high drain current density of 1.5/1.0 A/mm by utilizing a highly doped β-Ga2O3 nano-membrane as the channel. β-Ga2O3 on insulator field-effect transistor (GOOI FET) shows a high on/off ratio of 1010 and low subthreshold slope of 150 mV/dec even with 300 nm thick SiO2. The enhancement-mode GOOI FET is achieved through surface depletion. An ultra-fast, high resolution thermo-reflectance imaging technique is applied to study the self-heating effect by directly measuring the local surface temperature. High drain current, low Rc, and wide bandgap make the β-Ga2O3 on insulator field-effect transistor a promising candidate for future power electronics applications.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0003-6951
eISSN: 1077-3118
DOI: 10.1063/1.5000735
Titel-ID: cdi_scitation_primary_10_1063_1_5000735

Weiterführende Literatur

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