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Simultaneous atomic force microscopy measurement of topography and contact resistance of metal films and carbon nanotubes
Ist Teil von
Review of scientific instruments, 2003-08, Vol.74 (8), p.3653-3655
Erscheinungsjahr
2003
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Beschreibungen/Notizen
We present a quartz tuning-fork-based atomic force microscopy (AFM) setup that is capable of mapping the surface contact resistance while scanning topography. The tuning-fork setup allows us to use etched Pt/Ir tips, which have higher durability and better conductivity than probes used in earlier AFM conductance measurements. The performance of the method is demonstrated with contact resistance measurements of gold lines on silicon dioxide and carbon nanotubes on graphite.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0034-6748
eISSN: 1089-7623
DOI: 10.1063/1.1590750
Titel-ID: cdi_scitation_primary_10_1063_1_1590750
Format
–
Weiterführende Literatur
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