Zur Ergebnisliste
Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
XRF device measures nickel coatings
Products Finishing, 2013-07, Vol.77 (10), p.54-54
2013

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
XRF device measures nickel coatings
Ist Teil von
  • Products Finishing, 2013-07, Vol.77 (10), p.54-54
Ort / Verlag
Cincinnati: Gardner Publications, Inc
Erscheinungsjahr
2013
Link zum Volltext
Quelle
EBSCOhost Business Source Ultimate
Beschreibungen/Notizen
  • Fischer Technology's Fischerscope XDV SDD x-ray fluorescence (XRF) instrument is capable of non-destructively measuring the phosphorous content and thickness of electroless nickel coatings simultaneously.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0032-9940
eISSN: 2693-2822
Titel-ID: cdi_proquest_reports_1412595808
Format
–
Schlagworte
Coatings industry, Devices, Finishing, Measuring instruments, Nickel, Nickel coatings, Software, X-ray fluorescence

Weiterführende Literatur

Empfehlungen zum selben Thema automatisch vorgeschlagen von bX