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Tapping mode atomic force microscopy provides good resolution in imaging applications, but it still requires a time-consuming initial configuration and features quite low scanning velocity. In this paper we present a new dynamic mode in which the cantilever gets excited by a feedback loop containing a saturation function. The proposed scheme is then analysed in the frequency domain and simulated against the standard set-up, showing good performance and elimination of some of the known drawbacks. Preliminary results in experiments confirm the effectiveness of this operating mode.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0957-4484
eISSN: 1361-6528
DOI: 10.1088/0957-4484/19/47/475501
Titel-ID: cdi_proquest_miscellaneous_883310264
Format
–
Weiterführende Literatur
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