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Surface sensitivity in scanning transmission x-ray microspectroscopy using secondary electron detection
Ist Teil von
Review of scientific instruments, 2010-03, Vol.81 (3), p.033704-033704-5
Ort / Verlag
United States: American Institute of Physics
Erscheinungsjahr
2010
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Beschreibungen/Notizen
The successful integration of electron detection into an existing scanning transmission x-ray microspectroscope (STXM) at the Swiss Light Source is demonstrated. In conventional x-ray detection using a photomultiplier, STXM offers mainly bulk sensitivity combined with high lateral resolution. However, by implementation of a channeltron electron multiplier, the surface sensitivity can be established by the detection of secondary electrons emitted from the sample upon resonant excitation. We describe the experimental setup and discuss several relevant aspects, in particular the schemes to correct for self-absorption in the specimen due to back illumination in case of thicker films.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0034-6748
eISSN: 1089-7623
DOI: 10.1063/1.3360813
Titel-ID: cdi_proquest_miscellaneous_733564039
Format
–
Weiterführende Literatur
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