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IEEE transactions on electromagnetic compatibility, 2008-11, Vol.50 (4), p.869-875
Ort / Verlag
New York, NY: IEEE
Erscheinungsjahr
2008
Quelle
IEEE/IET Electronic Library
Beschreibungen/Notizen
The paper analyzes the test setup required by the International Electrotechnical Commission (IEC) 61000-4-4 to evaluate the immunity of electronic equipment to electrical fast transients (EFTs), and proposes an electrical model of the capacitive coupling clamp, which is employed to add disturbances to nominal signals. The study points out limits on accuracy of this model, and shows how it can be fruitfully employed to predict the interference waveform affecting nominal system signals through computer simulations.