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Size control of silicon nanocrystals in silicon nitride film deposited by catalytic chemical vapor deposition at a low temperature (⩽200 °C)
Ist Teil von
Scripta materialia, 2009-04, Vol.60 (8), p.703-705
Ort / Verlag
Elsevier Ltd
Erscheinungsjahr
2009
Quelle
Elsevier ScienceDirect Journals
Beschreibungen/Notizen
We observed a wide range of photoluminescence (PL) energy variation from silicon nanocrystals prepared at a low temperature (⩽200
°C). The size of the silicon nanocrystals was controlled by varying the NH
3/SiH
4 mixture ratio. The PL peaks consist of three compounds: nanocrystalline silicon, amorphous silicon and nitrogen dangling bond. The luminescence from the silicon nanocrystals was dominant, and its wavelength varied from 510 to 710
nm as the subgrain size changed from 3.5 to 5
nm.