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Ergebnis 13 von 62559

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Electrical and optical study of ITO films on glass and polymer substrates prepared by DC magnetron sputtering type negative metal ion beam deposition
Ist Teil von
  • Materials chemistry and physics, 2008-02, Vol.107 (2), p.444-448
Ort / Verlag
Elsevier B.V
Erscheinungsjahr
2008
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Beschreibungen/Notizen
  • Transparent, conducting indium tin oxide (ITO) films were deposited without intentional substrate heating on glass and polyethersulfone (PES) substrates by a magnetron sputter type negative metal ion source (MSNIS). The effect of substrate type on optical transmittance, electrical resistivity, surface morphology and roughness of the ITO film was analyzed. ITO/glass substrates show a higher optical transmittance (89%) and lower resistivity (4 × 10 −4 Ω cm) than ITO/PES (78%, 6 × 10 −4 Ω cm). X-ray diffraction (XRD) spectra indicate polycrystalline ITO films deposited on glass and amorphous ITO films on PES. Atomic force microscopy (AFM) images also indicate that ITO/glass has a lower surface roughness than ITO/PES. The values of figure of merit ( T 10/ R sh) for ITO/glass ( ϕ TC = 7.7 × 10 −3 Ω −1) are higher than ITO/PES ( ϕ TC = 1.3 × 10 −3 Ω −1), indicating that ITO/glass achieved the best performance in this study.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0254-0584
eISSN: 1879-3312
DOI: 10.1016/j.matchemphys.2007.08.015
Titel-ID: cdi_proquest_miscellaneous_31771513
Format
Schlagworte
AFM, Indium tin oxide, Ion beam, PES, Resistivity, XRD

Weiterführende Literatur

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