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In this contribution we summarize measurements on bipolar high voltage SiC-diodes
which were fabricated on 4H-SiC wafers preferentially cut 4° off the [0001] basal plane, whereas
the p-emitter thickness was varied in predetermined ratios to the n-base thickness. The switching
behaviour of optimized 6.5 kV-Diodes at a current level of 25 A is shown at DC link voltages up to
4 kV and at a junction temperature of 125°C. Experimental results are discussed in terms of
snappiness.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0255-5476, 1662-9752
eISSN: 1662-9752
DOI: 10.4028/www.scientific.net/MSF.556-557.889
Titel-ID: cdi_proquest_miscellaneous_30070197
Format
–
Weiterführende Literatur
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