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Porosity profile determination of porous silicon interference filters by RBS
Physica status solidi. C, 2005-06, Vol.2 (9), p.3208-3212
Torres-Costa, V.
Pászti, F.
Climent-Font, A.
Martín-Palma, R. J.
Martínez-Duart, J. M.
2005
Volltextzugriff (PDF)
Details
Autor(en) / Beteiligte
Torres-Costa, V.
Pászti, F.
Climent-Font, A.
Martín-Palma, R. J.
Martínez-Duart, J. M.
Titel
Porosity profile determination of porous silicon interference filters by RBS
Ist Teil von
Physica status solidi. C, 2005-06, Vol.2 (9), p.3208-3212
Ort / Verlag
Berlin: WILEY-VCH Verlag
Erscheinungsjahr
2005
Quelle
Wiley-Blackwell subscription journals
Beschreibungen/Notizen
Porous silicon (PS) has a great potential in optical applications, among others, due to its tunable refractive index. In particular, multilayer structures consisting of alternating PS layers with different refractive indexes can be used as interference filters for applications in the field of optoelectronics. In the present work, Rutherford Backscattering Spectroscopy (RBS) measurements and optical characterization have been carried out on PS multilayer stacks, consisting of alternate low‐porosity/high‐porosity layers, in order to determine their compositional profile, homogeneity and overall optical behavior. In addition, RBS has been used to determine the porosity profile of this kind of structures. The experimental results show a constant in‐depth composition among alternate layers, revealing the good homogeneity of the multilayer structures. Neither porosity, nor oxidation degree gradient is observed. (© 2005 WILEY‐VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim)
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1610-1634
eISSN: 1610-1642
DOI: 10.1002/pssc.200461115
Titel-ID: cdi_proquest_miscellaneous_29561064
Format
–
Schlagworte
68.37.Hk
,
78.40.Fy
,
78.40.Pg
,
78.55.Mb
,
82.80.Yc
Weiterführende Literatur
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