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In situ high‐energy X‐ray diffraction experiments reveal the influence of various microstresses and grain orientations on the memory effect in polycrystalline Ni2MnGa ferromagnetic shape‐memory alloys during phase transformation (see figure). The “memory” of grain orientation and intergranular stress is evident; however, the microscale “memory” is degraded due to the existence of the intragranular stress.