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Microelectronic engineering, 2005-08, Vol.81 (2), p.238-242
2005
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Terahertz radiation from narrow-gap semiconductors photoexcited by femtosecond laser pulses
Ist Teil von
  • Microelectronic engineering, 2005-08, Vol.81 (2), p.238-242
Ort / Verlag
Amsterdam: Elsevier B.V
Erscheinungsjahr
2005
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Beschreibungen/Notizen
  • Large increase of the emitted terahertz power has been observed for p-InAs samples with the p-doping levels of ≈10 16–10 17 cm −3. This increase was explained by a large surface depletion layer and an electric-field-induced optical rectification effect in the layer. Terahertz fields radiated by the samples of all three investigated Cd x Hg 1 − x Te layers was of the same order of magnitude. No azimuthal angle dependence of the radiated signal was detected, what evidences that linear current surge effect is dominating over nonlinear optical rectification. Azimuthal angle and magnetic fields emission witness that it is caused by linear photo-Dember type processes.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0167-9317
eISSN: 1873-5568
DOI: 10.1016/j.mee.2005.03.013
Titel-ID: cdi_proquest_miscellaneous_29076827

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