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SrAl2O4:Eu thin films have been deposited on Si(100) or graphite substrates using an intense pulsed ion-beam evaporation technique. The results of XRD and photoluminescence suggest that SrAl2O4:Eu thin films which have a polycrystalline structure can be produced in vacuum, without substrate heating and annealing. The composition and morphology of the films have been analyzed by RBS and SEM. From RBS analysis, authors have obtained good stoichiometry between the target and the films prepared. 12 refs.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0021-4922
eISSN: 1347-4065
DOI: 10.1143/jjap.40.1035
Titel-ID: cdi_proquest_miscellaneous_26890354
Format
–
Weiterführende Literatur
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