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High-performance planar inductor on oxidized porous silicon (OPS) substrate
Ist Teil von
IEEE microwave and guided wave letters, 1997-08, Vol.7 (8), p.236-238
Erscheinungsjahr
1997
Quelle
IEEE
Beschreibungen/Notizen
To obtain a high-performance planar inductor, we used the oxidized porous silicon (OPS) layer with 25-micron-thick SiO2 as a substrate. The measured radio frequency (RF) performances of the planar inductor on the OPS layer are comparable to those on the semi-insulating GaAs substrate. For a 6.29-nH inductor, a resonant frequency of 13.8 GHz and a maximum quality factor (Q) of 13.3 are obtained. These results show that the utilization of the OPS layer can push silicon passive monolithic microwave integrated circuit (MMIC) technology at least up to 12 GHz. (Author)
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1051-8207
Titel-ID: cdi_proquest_miscellaneous_26543771
Format
–
Weiterführende Literatur
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