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Applied physics letters, 1991-12, Vol.59 (24), p.3168-3170
1991
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Visible photoluminescence of Ge microcrystals embedded in SiO2 glassy matrices
Ist Teil von
  • Applied physics letters, 1991-12, Vol.59 (24), p.3168-3170
Ort / Verlag
Melville, NY: American Institute of Physics
Erscheinungsjahr
1991
Quelle
AIP Journals Complete
Beschreibungen/Notizen
  • Ge microcrystals embedded in SiO2 glassy matrices were formed by a radio-frequency magnetron cosputtering technique and then annealed at 800 °C for 30 min. The average radius of the Ge microcrystals in SiO2 was determined to be about 3 nm by means of Raman spectroscopy and high resolution electron microscope. The annealed sample showed a strong room temperature luminescence with a peak at 2.18 eV. This is consistent with quantum confinement of electrons and holes.

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