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Applied physics letters, 1987-11, Vol.51 (20), p.1614-1616
1987

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Photoresistivity and photo-Hall-effect topography on semi-insulating GaAs wafers
Ist Teil von
  • Applied physics letters, 1987-11, Vol.51 (20), p.1614-1616
Ort / Verlag
Melville, NY: American Institute of Physics
Erscheinungsjahr
1987
Link zum Volltext
Quelle
AIP Journals Complete
Beschreibungen/Notizen
  • By placing a semi-insulating GaAs wafer on a flat, rare-earth magnet, and irradiating the surface with two perpendicular slits of light to form a Greek cross configuration, it is possible to perform photoresistivity and photo-Hall-effect topography on the wafer. The technique is nondestructive in that the contacts are tiny, removable In dots which are placed only on the periphery. By varying the wavelength of the light, selective centers, such as EL2, can be mapped. We compare a 1.1-μm, photoexcited electron concentration map with a quantitative EL2 map on a 3-in. undoped, liquid-encapsulated Czochralski wafer.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0003-6951
eISSN: 1077-3118
DOI: 10.1063/1.98572
Titel-ID: cdi_proquest_miscellaneous_24612103

Weiterführende Literatur

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